- 光干涉仪的原理图
光干涉仪的原理图通常包括以下部分：
1. 光源：用于产生光线，通常为激光器。
2. 光学系统：用于将光线聚焦成微小的光束，以便在干涉仪中使用。
3. 反射镜和透镜：用于反射和聚焦光线。
4. 干涉仪：用于将两个或多个光束叠加，产生干涉模式。
5. 检测器：用于检测干涉模式的光强度，并将其转换为电信号。
6. 控制系统：用于控制光源、光学系统和干涉仪，以便产生所需的干涉模式。
此外，光干涉仪可能还包括一些其他组件，如测量头、校准块和计算机接口等，用于实现具体的测量功能。具体原理图可能会根据不同的光干涉仪型号和用途而有所不同。
相关例题：
一个光源发出平行光，经过一个狭缝分成两束相干光。这两束光在两个相距较远的反射镜上反射后再次相遇，并在空间中形成干涉条纹。干涉条纹的强度分布与两束光的相位差有关，因此可以通过观察干涉条纹来推算相位差。
当两束光的光程差等于波长的整数倍时，干涉条纹为亮条纹；当光程差为半波长的奇数倍时，干涉条纹为暗条纹。通过调整狭缝和反射镜的位置和角度，可以观察到不同数量的干涉条纹，从而实现对被测量的测量。
1. 光学元件：用于调整光路和聚焦光束。
2. 测量装置：用于记录干涉条纹的图像并分析其分布。
3. 控制系统：用于控制光源、光学元件和测量装置的工作状态。
需要注意的是，以上只是一个简单的示例，实际的光干涉仪可能更加复杂和精确。如果您需要更详细的信息或具体的例题，建议您查阅相关文献或咨询专业人士。
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