- 光的干涉左突右凹
光的干涉左突右凹的图案通常是由等厚干涉产生的，常见于劈尖干涉和牛顿环等实验中。这些图案通常出现在薄膜干涉中，当光从空气或其他透明物质表面反射时形成。
具体来说，当一束平行光照射到一薄层薄膜上时，光会在薄膜表面发生反射，并在薄膜内部发生干涉。在这个过程中，光会在薄膜的不同厚度处发生干涉条纹的移动，形成明暗相间的干涉图案。
当出现左突右凹的图案时，这意味着干涉条纹在远离观察点的方向上逐渐变密，这通常是由于薄膜表面弯曲导致的。具体来说，如果薄膜表面略微凹陷，那么反射光会在该处发生折射，导致干涉条纹向远离观察点的方向移动，并变得更加密集。这种现象通常是由于光的干涉和薄膜的折射共同作用的结果。
综上所述，光的干涉左突右凹通常是由薄膜干涉产生的，其形成原因主要是由于薄膜表面弯曲和折射。具体的图案和特点可能会因薄膜的厚度、材质和折射率等因素而有所不同。
相关例题：
用一个偏振片和一个起偏器组成起偏器-反射狭缝-检偏器系统，并让光垂直入射到系统中。此时，光波是平行的，但当光经过反射狭缝时，反射光和透射光之间产生相位差，形成干涉现象。
当改变起偏器或反射狭缝的角度时，干涉图样会如何变化？当反射狭缝改变角度时，反射光和透射光的相位差会随之改变，从而导致干涉图样发生改变。具体来说，如果反射狭缝角度增大，干涉图样会左突（即明暗间隔变小），如果反射狭缝角度减小，干涉图样会右凹（即明暗间隔变大）。
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