- 光的等厚干涉仪器
光的等厚干涉仪器主要包括：
1. 干涉仪：用于测量平凸透镜的凸面曲率半径，也可以用来测量光学透镜的厚度。
2. 干涉显微镜：用于测量透镜、反射镜等光学元件的表面形状，通过调节光源与被测件的距离L和入射角，可观察因波前畸变引起的干涉图样变化，从而确定元件的厚度。
此外，还有分振幅干涉仪、激光干涉仪、光波波前干涉仪等，它们都可以用于光的等厚干涉测量。请注意，这些仪器可能需要根据具体的应用和需求进行选择和配置。在使用任何干涉仪器时，都需要遵循正确的操作指南和安全规程。
相关例题：
光的等厚干涉仪器的一个例子是牛顿环实验仪器。牛顿环是一个典型的等厚干涉仪器，它利用了光的干涉原理来测量平面的平直度。下面是一个使用牛顿环仪器过滤掉某些特定波长的光的例题：
假设我们正在检查一块玻璃板，我们想要确定它的表面是否平整。通过一个显微镜观察玻璃板，我们发现有明暗相间的条纹，这些条纹的间距是相等的。现在，我们想要知道这个玻璃板的表面是否平整。
我们知道，玻璃板反射的光线中包含各种波长的光，其中一部分波长的光会发生干涉。如果玻璃板表面不平整，那么不同波长的光线的反射就会产生不同的相位差，从而在观察点产生干涉。
现在，我们想要过滤掉某些特定波长的光。我们可以通过调整一个反射镜来改变光的波长，从而改变干涉条纹的形状和间距。如果干涉条纹变得不均匀，那么我们就可以确定这个玻璃板的表面不平整。
需要注意的是，这个过程需要一定的专业知识和技能，并且需要精确的仪器调整和测量技术。因此，使用牛顿环仪器进行光学检测时，需要谨慎操作，确保仪器的准确性和可靠性。
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