- 北邮光的等厚干涉
北邮光的等厚干涉有：
1. 平行光入射到焦平面时，形成的干涉条纹；
2. 平行光入射到反射面上，反射光经焦平面出射形成的等厚干涉；
3. 平行光经分光镜形成两个反射面，反射光在焦平面出射形成的等厚干涉；
4. 平行光经分光镜形成两个折射面，折射光线在焦平面出射形成的等厚干涉。
以上就是北邮光的等厚干涉的主要类型，仅供参考。
相关例题：
题目：
在北邮光学院，我们经常使用等厚干涉来测量光学元件的表面粗糙度。假设我们有一个直径为D的圆形光学元件，其表面由许多微小的凸起和凹陷组成。我们想要测量这些凸起和凹陷的深度。为了达到这个目的，我们可以使用等厚干涉仪。
首先，我们将光学元件放在等厚干涉仪的载物台上，然后将干涉仪调整到特定的干涉模式（例如，牛顿环模式或楔子模式）。接下来，我们调整光学元件的位置，直到观察到清晰的干涉图案。这个清晰的干涉图案是由许多明暗交替的干涉条纹组成的。
现在，让我们通过一个具体的例子来说明如何使用等厚干涉来测量一个光学元件的表面粗糙度。假设我们有一个直径为10mm的圆形光学元件，其表面由许多微小的凸起和凹陷组成。我们想要测量这些凸起和凹陷的深度。
通过这种方法，我们可以准确地测量出光学元件表面凸起和凹陷的高度和深度，从而评估其表面粗糙度。
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