- 光的干涉试验长度
光的干涉试验长度包括以下几种：
1. 入射光屏到薄膜前表面距离：通常用$h$表示。
2. 薄膜后表面到光屏的距离：通常用$L$表示。
3. 干涉条纹的间距：由于相邻两条亮纹或暗纹间的距离为相干光波长的一半，因此可以认为干涉条纹的间距为光屏到薄膜后表面距离的两倍，即Δs=2L/d。
此外，光的干涉试验长度还包括光屏的长度，它限制了观察干涉条纹的范围。在干涉实验中，光屏是用于接收干涉图案的平面。
相关例题：
1. 准备实验：首先，需要准备干涉仪、光源（通常是激光器）、透明薄膜、反射镜、尺子等必要的实验设备。
2. 调整干涉仪：将干涉仪调整为合适的模式，确保光源能够通过干涉仪并发出平行的光束。
3. 放置薄膜：将薄膜放置在干涉仪的光路上，确保薄膜的两个表面与光源平行。
4. 观察干涉图样：通过调整反射镜，观察干涉图样并记录下来。
5. 测量干涉图样的周期：根据干涉图样的周期，可以求出光的波长（λ）。
6. 利用薄膜厚度公式求出薄膜厚度：根据光的干涉原理，透明薄膜的厚度可以表示为 λ/2n（其中n是薄膜的折射率），因此可以通过测量干涉图样的周期来求出薄膜的厚度。
通过这个实验，我们可以了解到光的干涉原理在实际应用中的一种应用方式，即利用干涉仪测量透明薄膜的厚度。这个实验也可以帮助我们理解光的干涉现象的基本原理和操作方法。
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